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常用焊縫無(wú)損檢測(cè)探傷方法有哪些？

文章來(lái)源：華道顧問(wèn) 編輯：華道顧問(wèn)

      無(wú)損檢測(cè)探傷就是利用聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢對(duì)象使用性能的前提下，檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷的大小、位置、性質(zhì)和數(shù)量等信息，進(jìn)而判定被檢對(duì)象所處技術(shù)狀態(tài)(如合格與否、剩余壽命等)的所有技術(shù)手段的總稱。
      常用的無(wú)損檢測(cè)方法：超聲檢測(cè)(UT)、磁粉檢測(cè)(MT)、液體滲透檢測(cè)(PT)及X射線檢測(cè)(RT)。

1.超聲波探傷(UT)
利用壓電換能器件，通過(guò)瞬間電激發(fā)產(chǎn)生脈沖振動(dòng)，借助于聲耦合介質(zhì)傳人金屬中形成超聲波，超聲波在傳播時(shí)遇到缺陷就會(huì)反射并返回到換能器，再把聲脈沖轉(zhuǎn)換成電脈沖，測(cè)量該信號(hào)的幅度及傳播時(shí)間就可評(píng)定工件中缺陷的位置及嚴(yán)重程度。　　
超聲波比射線探傷靈敏度高，靈活方便，周期短、成本低、效率高、對(duì)人體無(wú)害，但顯示缺陷不直觀，對(duì)缺陷判斷不精確，受探傷人員經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)熟練程度影響較大。

2.磁粉檢測(cè)(MT)
磁粉檢測(cè)的原理：鐵磁性材料和工件被磁化后，由于不連續(xù)性的存在，工件表面和近表面的磁力線發(fā)生局部畸變，而產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合適光照下目視可見(jiàn)的磁痕，從而顯示出不連續(xù)性的位置、形狀和大小。
磁粉檢測(cè)的適用性和局限性有：
1、磁粉探傷適用于檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面尺寸很小、間隙極窄目視難以看出的不連續(xù)性。
2、磁粉檢測(cè)可對(duì)多種情況下的零部件檢測(cè)，還可多種型件進(jìn)行檢測(cè)。
3、可發(fā)現(xiàn)裂紋、夾雜、發(fā)紋、白點(diǎn)、折疊、冷隔和疏松等缺陷。（感謝關(guān)注鼎鼎自動(dòng)焊接）
4、磁粉檢測(cè)不能檢測(cè)奧氏體不銹鋼材料和用奧氏體不銹鋼焊條焊接的焊縫，也不能檢測(cè)銅鋁鎂鈦等非磁性材料。對(duì)于表面淺劃傷、埋藏較深洞和與工件表面夾角小于20°的分層和折疊很難發(fā)現(xiàn)。

3.液體滲透檢測(cè)
液體滲透檢測(cè)的基本原理：零件表面被施涂含有熒光染料或著色染料后，在一段時(shí)間的毛細(xì)管作用下，滲透液可以滲透進(jìn)表面開(kāi)口缺陷中；經(jīng)去除零件表面多余的滲透液后，再在零件表面施涂顯像劑，同樣，在毛細(xì)管的作用下，顯像劑將吸引缺陷中保留的滲透液，滲透液回滲到顯像劑中，在一定的光源下(紫外線光或白光)，缺陷處的滲透液痕跡被現(xiàn)實(shí)，(黃綠色熒光或鮮艷紅色)，從而探測(cè)出缺陷的形貌及分布狀態(tài)。
滲透檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)有：
1、可檢測(cè)各種材料；
2、具有較高的靈敏度；
3、顯示直觀、操作方便、檢測(cè)費(fèi)用低。
而滲透檢測(cè)的缺點(diǎn)有：
1、不適于檢查多孔性疏松材料制成的工件和表面粗糙的工件；
2、滲透檢測(cè)只能檢出缺陷的表面分布，難以確定缺陷的實(shí)際深度，因而很難對(duì)缺陷做出定量評(píng)價(jià)。檢出結(jié)果受操作者的影響也較大。

4.X射線檢測(cè)
最后一種，射線檢測(cè)，是因?yàn)?X射線穿過(guò)被照射物體后會(huì)有損耗，不同厚度不同物質(zhì)對(duì)它們的吸收率不同，而底片放在被照射物體的另一側(cè)，會(huì)因?yàn)樯渚�強(qiáng)度不同而產(chǎn)生相應(yīng)的圖形,評(píng)片人員就可以根據(jù)影像來(lái)判斷物體內(nèi)部的是否有缺陷以及缺陷的性質(zhì)。

射線檢測(cè)的適用性和局限性：
1、對(duì)檢測(cè)體積型的缺陷比較敏感，比較容易對(duì)缺陷進(jìn)行定性。
2、射線底片易于保留，有追溯性。
3、直觀顯示缺陷的形狀和類型。
4、缺點(diǎn)不能定位缺陷的埋藏深度，同時(shí)檢測(cè)厚度有限，底片需專門送洗，并且對(duì)人身體有一定害，成本較高。

總而言之，超聲波、X射線探傷適用于探傷內(nèi)部缺陷；其中超聲波適用于5mm以上，且形狀規(guī)則的部件，X射線不能定位缺陷的埋藏深度，有輻射。 磁粉、滲透探傷適用于探傷部件表面缺陷；其中磁粉探傷僅限于檢測(cè)磁性材料，滲透探傷僅限于檢測(cè)表面開(kāi)口缺陷。

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